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X射线吸收精细结构谱仪 (XAFS)
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产品描述
参数
技术参数：
核心优势:
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最高光通量产品
光子通量高于1000000光子/秒/eV，采谱效率数倍于其他产品；获得和同步辐射一样的数据质量
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优异的稳定性
光源单色光强度稳定性优于0.1%，重复采集能量漂移 < 50 meV
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1%探测极限
高光通量、优异的光路优化和极好的光源稳定性确保所测元素含量>1%时依旧获得高质量EXAFS数据
仪器原理：
X射线吸收精细结构谱仪 (X-ray absorption fine structure，XAFS)，是一种研究材料局域原子或电子结构的有力工具，广泛应用于催化、能源、纳米等热门领域。
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Mn数据，Mn K-edge XAFS数据，数据与同步辐射光源一致
Fe样品Kβ发射谱数据：core to core XES 和 valence to core XES
测试数据：
Foil EXAFS数据
可测元素：绿色部分可测K边，黄色部分可测L边
应用领域：
工业催化、储能材料、纳米材料、环境毒理、也质分析、重元素分析等
关键词:
X射线吸收精细结构谱仪
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